CLEANLINESS ANALYSIS OVERVIEW
清洁度分析概述

> 光学分析目前已成为清洁度行业标准分析，具备经济、快速检测，易操作特点；
> VDA19标准分析颗粒为50um以上，这已经不能满足行业发展需求；
> 光学分析可检测出颗粒类型，分类，区间数量，最大颗粒等信息；
> 光学分析可检测出污染物颗粒长度、宽度、面积、内切圆、高度等尺寸信息；
> 金属颗粒识别准确率可体现一台分析系统的优越性能；

PARTICLE TYPE
颗粒类型

> 金属颗粒：通常是最关注的，并且是最关键的颗粒。
> 非金属颗粒，不含纤维：这些颗粒和金属颗粒一样是关键性污染物颗粒。
> 纤维：这些颗粒在测试的准备和操作过程中是无法避免的。因此，即使有时候纤维是滤膜上最大的颗粒，其关注度也是相对不高。
> 但是纤维过大对某些零部件失效也会存在风险。
颗粒区间分类及标准等级【VDA19/ISO16232】


表1：

Size Class Size x [um]
B 5≤ X <15
C 15≤ X <25
D 25≤ X <50
E 50≤ X <100
F 100≤ X <150
G 150≤ X <200
H 200≤ X <400
I 400≤ X <600
J 600≤ X <1000
K 1000≤ X

表2：

Number of particles per 1000 cm2 or per 100 cm3 Cleanliness level
More than Up to and including
0 0 00
0 1 0
1 2 1
2 4 2
4 8 3
8 16 4
16 32 5
32 64 6
64 130 7
130 250 8
250 500 9
500 1x103 10
1x103 2x103 11
2x103 4x103 12
4x103 8x103 13
8x103 16x103 14
16x103 32x103 15
32x103 64x103 16
64x103 130x103 17
130x103 250x103 18
250x103 500x103 19
500x103 1x103 20
1x103 2x103 21
2x103 4x103 22
4x103 8x103 23
8x103 16x103 24

表 1. 标准 ISO 16232:2007 第 10 部分中的颗粒尺寸等级。 表 2. 标准 ISO 16232:2007 第 10 部分中的颗粒清洁度等级。

ANALYSIS PRINCIPLE
分析原理

对47/50mm标准滤膜逐行扫描，无缝拼接,拼接后对整张滤膜进行颗粒分析，并进行颗粒分类排序。


> 整个亮度区域按照灰度值等级由黑至白划分。针对颗粒分析共创建了 0-255灰度等级；
> 图像处理软件通过阈值确定哪些区域属于颗粒,哪些属于滤膜背景（二次阈值）；
> 采用显微镜进行光学颗粒分析时,仅可对小于二值阈值的颗粒结构进行数据采集(相比滤膜背景的颜色更深)。


采用十字排列偏振镜的显微镜的设置
采用偏振镜的光学显微镜的图像亮度与二值阈值的设置

非金属-金属识别原理

颗粒类型 平行偏振光模式下【明场状态】 十字交叉偏振光下【偏振光状态】
A:金属颗粒
B：非金属颗粒
金属颗粒在两种照明模式下：
明场【采用平行偏振镜】：金属中自由移动的电子产生反射光，金属颗粒呈明亮色
偏振光【采用交叉排列的偏振镜】：抑制偏振光反射，金属颗粒呈暗黑色
非金属、玻璃、纤维、塑料、磨料等材料无此特性。
对比两张图像（两个偏振镜在平行和十字交叉状态下的对比）
偏振光是金属-非金属识别的关键，偏振光镜片镀膜工艺直接影响颗粒检测准确性
两张图像ID位置必须相同，否则会存在金属颗粒误判漏判情况
FASMEI CLEANLINESS MEASUREMENT SYSTEM ANALYSIS PROCESS
FASMEI清洁度测量系统分析过程

> FASMEI清洁度测量分析过程极为简便，操作者无经验也可在半小时内轻松掌握操作过程。
> FASMEI清洁度测量系统设从计开发之初，就要求操作过程必须简便，自动化，准确性，数据化，标准化。
> FASMEI系列测量系统无需手动调节光源，偏振光，全程自动扫描分析。
> 数据库保证可追溯性，MSA系统数据库。



EXPANDED ANALYSIS
拓展分析

颗粒高度测量

在某些高要求零部件中，如流体液压部件，仅测量颗粒长度宽度是不够的，往往还需要测量颗粒高度信息。测量方法如下


颗粒属性

如VDA-19标准中描述的扩展式颗粒分析技术。用SEM-EDX的自动扫描电子显微镜广泛用于世界各地的清洁度实验室。