FASMEI智能清洁度分析系统——高景深,高精度,快速,稳定
系统描述

FASMEI 910新一代智能清洁度颗粒分析系统,全新分析模式,重新定义清洁度颗粒分析;

采用国际一流硬件配置,检测速度实现革命性飞跃;

一次扫描技术,检测效率提高一倍;

扫描时间<3min;

分析过程全自动化;

一键分析金属非金属纤维颗粒;

自动偏振光,自动倍率识别;

软件采用智能算法,图像拼接更优越,颗粒识别更准确

严格执行ISO16232/VDA19.1等国际清洁度分析标准;

本系统最大还原颗粒污染物原色彩及颗粒数据测量准确性;

软件性能优越,简单易用,免费升级;

分析结果MAP图储存,数据保存指定根目录,可任意调用及从新分析;

SQL数据库统计,可任意调用历史数据(最大金属颗粒,颗粒数量等),并以趋势图表述,为产品工艺改进提供数据支撑。

性能特点
高景深光学主机
18:1超大变倍比
检测颗粒≥5um
自动光源
自动偏振光
倍率自动设别
分析过程全自动化
一键扫描分析设别金属、非金属、纤维颗粒
MAP全图预览
任意颗粒浏览
具备SQL分析统计数据库

软件介绍
中英文操作界面
自动扫描,无缝拼图技术
一键扫描分析,一键出报告
内置ISO16232/VDA19/CATL/ISO4406清洁度检测标准
用户可自定义分析标准
软件支持现行多种标准进行分析
自动检测分辨出微粒类型(金属、非金属、纤维)
评价参数(长度、宽度、面积、纤维最大长度)
按照标准ISO 16232 /VDA19计算工件清洁度代码(CCC)
有效微粒处理(例如重叠微粒),扫描结果可手动修改
可切分或关联任意形状的颗粒
可实现每个颗粒定位回看

技术参数
检测颗粒≥5um
RSD≤2%
Particle calibration≤2pixle
18:1超大变倍比光学主机
长景深复消色差系统
扫描时间<3min
高还原性彩色相机,SONY芯片
超高精度全自动扫描台 自动偏振LED光源
自校颗粒标准块
一键扫描分析设别金属、非金属、纤维颗粒
分析结果MAP图储存,数据保存指定根目录,可任意调用及重新分析
配置滤膜夹专用托架,兼容标准滤膜夹及滤膜载物片
软件智能算法,实现真正意义上图像无缝拼接
可选配扫码枪及MES系统
可升级四工位扫描

配件
滤膜载物片:50/47mm滤膜通用,可永久保存测试滤膜
测试滤膜:0.45um/0.8um/5um/10um/20um/40um/100um
落尘测试膜:实验室,车间落尘测试用
落尘测试架:SUS304
仪器防尘箱